當今電子元件的設計追求高性能，而同時又致力于減少尺寸、功耗和成本。有效而準確的元件性能描述、設計、評估和制造過程中的測試，對于元件用戶和生產(chǎn)廠家是至關重要的。電感、電容、電阻是電子線路中使用最為廣泛的電子器件，在進行電子設計的基礎上，準確地測量這些器件的值是極其重要的。精密LCR測試儀是一種采用交流方式測量電感、電容、電阻、阻抗等無源元件參數(shù)的裝置。用LCR測試儀測量元器件的參數(shù)時，其關鍵問題是測量誤差。它的誤差來源主要有兩部分，首先是LCR測試儀本身的內部誤差，其次是由不正確校準、測試件的連接方法及不正確選擇測量電路模型引起的。一般連接方法越麻煩越能準確地測量出元器件的參數(shù)。
 

　　測試時首先對精密LCR測試儀進行開路校準，開路校準主要是消除測試夾具與被測件相并聯(lián)的雜散導納。其次是進行短路校準，通過一短路條(用低阻抗的金屬板)將高、低電極相連。短路校準主要是消除測試夾具與被測件相串聯(lián)的殘余阻抗的影響。對于小電容、大電感來說，電抗一般都很大。這意味著并聯(lián)電阻的影響相對于小數(shù)值串聯(lián)電阻更加顯著，所以應采用并聯(lián)電路模型。相反，對于大電容、小電感則采用串聯(lián)模型。
 

　　精密LCR測試儀端子法方法比較簡單，但由于接觸電阻、連接電纜的串聯(lián)阻抗、連接電纜以及端子之間的雜散電容會引起較大的誤差。如果不是中等級數(shù)量的阻抗，那么測試誤差就會比較大。一般用于精度要求不是很高的測試。端子法對測試電纜和被測件進行屏蔽，通過抑制雜散電容，減少對高阻抗測試的測量誤差。一般用于小電容的測量。為了將測試引線的雜散電容減至最小，測試電纜引線的中心導體應維護盡可能短，測量接頭的屏蔽與電纜中心導體互聯(lián)，以降低對地雜散電容的影響。